晶振常用標(biāo)稱頻率在1~200MHz之間。如果需要更高更穩(wěn)定的輸出頻率，可以使用鎖相環(huán)PLL將低頻晶振進(jìn)行倍頻到1GHz以上的標(biāo)稱頻率。

1. 晶振輸出頻率偏差過大，會(huì)怎么樣？

振蕩器是通信系統(tǒng)中一個(gè)極其重要的元件，能夠產(chǎn)生高純度無諧波失真的正弦波，作為載波。如果晶振頻偏超差，鎖相環(huán)PLL鎖偏導(dǎo)致頻率出錯(cuò)，通信就會(huì)異常。晶振失效，則會(huì)導(dǎo)致通信中斷。

除了頻率誤差的因素，我們可以從以下幾點(diǎn)分析失效晶振的原因：負(fù)載電容，負(fù)性阻抗，激勵(lì)電平，噪聲，焊接等。

2. 晶振測試報(bào)告中，頻率偏差是哪一項(xiàng)？

晶振各項(xiàng)參數(shù)的分析應(yīng)使用專業(yè)晶振測試儀器。S&A250B網(wǎng)絡(luò)分析儀可以測量各尺寸直插及貼片石英晶體諧振器，可以提供精確的，重復(fù)性好的晶體測量方式，測量超過40種不同的參數(shù)。S&A280B測量石英晶體振蕩器，分析輸出波形及各類電性能參數(shù)。

每顆晶振都有不同的精度。在測試報(bào)告中，F(xiàn)L的含義是負(fù)載頻率/調(diào)制頻差，指常溫25℃和標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載電容條件下的振蕩頻率。KOAN晶振公司配備了S&A280B/S&A250B測試儀器等。我們能夠檢測在溫度、負(fù)載和功率電壓變化條件下的頻率穩(wěn)定性。

頻率穩(wěn)定性表示晶振的輸出頻率因溫度變化、頻率老化、電壓變化、輸出負(fù)載變化等外部條件而發(fā)生的變化。我們常說的總頻差就是這些工作和非工作參數(shù)全部結(jié)合起來而引起晶振頻率和給定標(biāo)稱頻率的最大偏差。